-
由主辦方主辦的JMP Discovery Summit 數(shù)據(jù)分析峰會于2015-05-15在會議指定場館舉辦。
首頁>演講嘉賓> Jon Weisz更新時間:2015-05-15
Jon Weisz 是 SAS全球副總裁。在擔(dān)任此職位之前,他曾是 JMP 的營銷總監(jiān),并曾擔(dān)任 SAS 的軟件開發(fā)、營銷和銷售支持經(jīng)理。1999 年他從 Allegro MicroSystems 轉(zhuǎn)投 SAS,在 Allegro MicroSystems 時曾擔(dān)任統(tǒng)計方法總監(jiān)。Weisz 先生在半導(dǎo)體、汽車制造和產(chǎn)品開發(fā)領(lǐng)域擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗。 他于 2008 年完成了哈佛商學(xué)院的綜合管理課程。Weisz 擁有密歇根大學(xué)生物統(tǒng)計學(xué)碩士學(xué)位和東密歇根大學(xué)數(shù)學(xué)學(xué)士學(xué)位。他是美國統(tǒng)計協(xié)會和美國質(zhì)量學(xué)會院員,并經(jīng)常發(fā)表有關(guān)數(shù)據(jù)可視化、應(yīng)用統(tǒng)計和試驗設(shè)計的演說。Weisz 先生曾撰寫多篇有關(guān)制造和產(chǎn)品開發(fā)領(lǐng)域應(yīng)用統(tǒng)計的論文,并且與他人合著了一本有關(guān)采用鏡像設(shè)計方法進(jìn)行試驗設(shè)計的著作。
Jon Weisz出席會議日程
由主辦方主辦的JMP Discovery Summit 數(shù)據(jù)分析峰會于2015-05-15在會議指定場館舉辦。